[发明专利]接触式温度探测器和制造方法无效
| 申请号： | 201110073941.4 | 申请日： | 2003-03-31 |
| 公开（公告）号： | CN102221417A | 公开（公告）日： | 2011-10-19 |
| 发明（设计）人： | M·科尔森;A·斯里瓦斯塔瓦 | 申请（专利权）人： | 艾克塞利斯技术公司 |
| 主分类号： | G01K7/02 | 分类号： | G01K7/02 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人： | 曹小刚;李连涛 |
| 地址： | 美国马*** | 国省代码： | 美国;US |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明涉及接触式温度探测器和制造方法，更具体涉及一种供测量处在加工环境中的基质的温度用的接触式测量探测器，它包括一个探测头，该探测头具有一个用来接触基质的由陶瓷材料或高分子材料制成的接触面，这接触式测量探测器消除了在含有离子源的加工环境中产生的电偏压的影响，由此能提供具有较高精度和可重复的温度测量结果。 | ||
| 搜索关键词： | 接触 温度 探测器 制造 方法 | ||
【主权项】：
一种接触式温度测量探测器的探测头，它包括：导电垫片；和一块配置在所述导电垫片接触面上的高分子材料，其中所述高分子材料选自由聚酰亚胺类和聚醚醚酮类构成的组。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于艾克塞利斯技术公司，未经艾克塞利斯技术公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201110073941.4/，转载请声明来源钻瓜专利网。
