[发明专利]基于磁耦合和光纤对阵列的液位测量方法

摘要

本发明是一种基于磁耦合和光纤对阵列的液位测量方法，该方法是在液体中固定一立柱，立柱中布置有光纤对线性阵列，各光纤对的两光纤之间有能够保证通光的窄缝，所有窄缝连通形成窄缝导槽，窄缝导槽中有磁性挡光板，浮在液面上的浮子中有永磁铁，永磁铁通过磁耦合驱动磁性挡光板沿窄缝导槽移动，从而调制光纤对的通光量，液面高度不同，不同光纤对的通光量被调制，通过检测光纤对通光情况即可知道液面位置。本发明中永磁铁密封在浮子内，所有光纤对和磁性挡光板密封在立柱内，与液体直接接触的只有浮子和立柱，因此只要针对被测液体选用相应的抗腐蚀材料制作浮子和立柱，就可用此方法对任何液体的液位进行测量。

主权项

一种液位测量方法，其特征是一种基于磁耦合和光纤对阵列的液位测量方法，该方法是在被测液体中固定一立柱（1），立柱（1）中布置有光纤对（2），光纤对（2）是由端面严格对准的两根光纤组成，光纤对（2）的两端从立柱（1）上方引出分别接光源（7）和光探测器（8），所有光纤对（2）沿立柱高度方向排列成光纤对（2）线性阵列，光纤对（2）两根光纤的对准端面之间有保证能够通光的窄缝，所有光纤对（2）的窄缝连通形成窄缝导槽（3），窄缝导槽（3）中有磁性挡光板（4），磁性挡光板（4）能够全部或部分遮挡一个或数个光纤对（2）的通光量，随液面浮动的的浮子（5）中有永磁铁（6），永磁铁（6）通过磁耦合驱动磁性挡光板（4）沿窄缝导槽（3）移动，从而调制光纤对（2）的通光量，液面高度不同，不同光纤对（2）的通光量被调制，通过检测各光纤对（2）的通光情况即可知道液面位置。