[发明专利]阻变存储器及其制造方法无效

专利信息
申请号: 201110081209.1 申请日: 2011-03-31
公开(公告)号: CN102738386A 公开(公告)日: 2012-10-17
发明(设计)人: 刘琦;刘明;龙世兵;吕杭炳;张森;李颖涛;王艳;连文泰;谢常青 申请(专利权)人: 中国科学院微电子研究所
主分类号: H01L45/00 分类号: H01L45/00;H01L27/24
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 逯长明;王宝筠
地址: 100029 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 一种阻变存储器及其制造方法,所述存储器包括:下电极;下电极之上的局部控制电极;下电极和局部控制电极之上的存储介质层;存储介质层之上的上电极。通过下电极上的局部控制电极,增强了存储介质内的局域电场强度,使导电细丝更容易沿着该控制电极形成,这样有效控制了导电细丝形成以及断开,从而解决了由于导电细丝随机形成而导致的编程电压离散的问题,使器件的编程电压具有集中性,提高了器件工作的稳定性。
搜索关键词: 存储器 及其 制造 方法
【主权项】:
一种阻变存储器,其特征在于,所述存储器包括:下电极;下电极之上的局部控制电极;下电极和局部控制电极之上的存储介质层;存储介质层之上的上电极。
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