[发明专利]制造集成电路芯片的方法及集成电路结构有效
申请号: | 201110086947.5 | 申请日: | 2007-12-18 |
公开(公告)号: | CN102176426A | 公开(公告)日: | 2011-09-07 |
发明(设计)人: | 戴维.M.弗里德;约翰.M.赫根罗瑟;沙里.J.麦克纳布;迈克尔.J.鲁克斯;安娜.托波尔 | 申请(专利权)人: | 国际商业机器公司 |
主分类号: | H01L21/762 | 分类号: | H01L21/762;H01L23/544 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人: | 丁辰 |
地址: | 美国纽*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | 一种方法,将集成电路芯片的制造层级的第一组特征对准电子束对准目标并使用电子束光刻来形成第一组特征,以及将集成电路芯片的相同制造层级的第二组特征对准光学对准目标并使用光学光刻来形成第二组特征,电子束对准目标包括形成于基板中的高原子量层,光学对准目标形成于基板中,光学对准目标本身对准电子束对准目标。还提供一种电子束对准目标的形成方法及结构。 | ||
搜索关键词: | 制造 集成电路 芯片 方法 结构 | ||
【主权项】:
一种制造集成电路芯片的方法,包括:在半导体基板中的相关于所述集成电路芯片的平面布局的所述基板上的第一位置形成第一沟槽,其中所述第一沟槽自所述基板的顶表面延伸第一距离至所述基板中;用电子背散射材料填充所述第一沟槽;凹陷所述基板的顶表面下方的所述背散射材料;用介电帽盖层填充所述第一沟槽;在相关于所述集成电路芯片的所述平面布局的所述基板上的第二位置设置第二沟槽,及蚀刻所述第二沟槽至所述基板中,所述第二沟槽自所述基板的所述顶表面延伸第二距离至所述基板中,以及所述第一距离大于所述第二距离。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造