[发明专利]热分析装置有效
| 申请号： | 201110088494.X | 申请日： | 2011-03-29 |
| 公开（公告）号： | CN102235987A | 公开（公告）日： | 2011-11-09 |
| 发明（设计）人： | 山田健太郎;西村晋哉;藤原宽仁 | 申请（专利权）人： | 精工电子纳米科技有限公司 |
| 主分类号： | G01N25/20 | 分类号： | G01N25/20;F27B17/02 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人： | 严志军;杨楷 |
| 地址： | 日本千叶*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明涉及一种热分析装置，其目的在于，排除热分析装置的加热炉周围的温度环境的变化的影响，提高测量精度。具备至少二层以上的密闭的层构造的多层构造体，该多层构造体以与外界隔离的方式覆盖所述加热炉周围。另外，其层间由具有与存在于加热炉内的气体同等的热容量的物质充满。 | ||
| 搜索关键词： | 分析 装置 | ||
【主权项】：
一种热分析装置，对于加热炉内的试样进行加热和冷却，并对此时的热举动进行测量和计测，具备至少二层以上的密闭的层构造的多层构造体，该多层构造体以与外界隔离的方式覆盖所述加热炉周围。
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