[发明专利]一种用于垂直发光二极管的测试分选装置

摘要

一种用于垂直发光二极管的测试分选装置，涉及光电技术领域。本发明包括待测试盘、测试盘、分选盘和测试系统。其结构特点是，所述待测试盘、测试盘和分选盘都设为可旋转、水平移动及上下移动的圆盘。置于测试盘一侧的待测试盘上置有芯片，分选盘置于测试盘的另一侧。测试盘上表面一圈均布多个放置槽，各放置槽底部连接真空管。测试盘上方与测试位置的放置槽的对应处置有探头和探针，探头和探针分别与测试系统相连接。待测试盘和测试盘之间设有能旋转换位的测试吸嘴，分选盘和测试盘之间设有能旋转换位的分选吸嘴。本发明能自动实现对垂直结构LED芯片的测试和分选作业，具有操作简单、效率高的特点。

主权项

一种用于垂直发光二极管的测试分选装置，它包括待测试盘（102）、测试盘（104）、分选盘（110）和测试系统（108），其特征在于，所述待测试盘（102）、测试盘（104）和分选盘（110）都设为可旋转、水平移动及上下移动的圆盘，置于测试盘（104）一侧的待测试盘（102）上置有芯片（101），分选盘（110）置于测试盘（104）的另一侧，测试盘（104）上表面一圈均布多个放置槽（105），各放置槽（105）底部连接真空管，测试盘（104）上方与测试位置的放置槽（105）的对应处置有探头（107）和探针（106），探头（107）和探针（106）分别与测试系统（108）相连接，待测试盘（102）和测试盘（104）之间设有能旋转换位的测试吸嘴（103），分选盘（110）和测试盘（104）之间设有能旋转换位的分选吸嘴（109）。