[发明专利]氮化物系半导体晶片以及氮化物系半导体装置有效

专利信息
申请号: 201110097172.1 申请日: 2011-04-15
公开(公告)号: CN102222690B 公开(公告)日: 2017-05-24
发明(设计)人: 土屋忠严 申请(专利权)人: 住友化学株式会社
主分类号: H01L29/778 分类号: H01L29/778;H01L29/00
代理公司: 北京银龙知识产权代理有限公司11243 代理人: 金鲜英,刘强
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明的课题在于稳定地提供具有有着高的绝缘性的氮化物系半导体层的氮化物系半导体晶片以及氮化物系半导体装置。本发明的课题的解决方案为,在绝缘性基板上,具有电阻率为10MΩcm以上100MΩcm以下、膜厚为0.1μm以上1.5μm以下的半绝缘性氮化物系半导体层。
搜索关键词: 氮化物 半导体 晶片 以及 装置
【主权项】:
氮化物系半导体晶片,其在绝缘性基板上具有缓冲层、紧接着位于所述缓冲层上的一层半绝缘性氮化物系半导体层、紧接着位于所述半绝缘性氮化物系半导体层上的沟道层、以及电子供给层,所述半绝缘性氮化物系半导体层的电阻率为10MΩcm以上100MΩcm以下、膜厚为0.1μm以上且小于1μm。
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