[发明专利]一种电力半导体元件散热器热阻测试方法及装置无效
| 申请号： | 201110099548.2 | 申请日： | 2011-04-20 |
| 公开（公告）号： | CN102243110A | 公开（公告）日： | 2011-11-16 |
| 发明（设计）人： | 贺荣;唐小堂;白文浩 | 申请（专利权）人： | 株洲时代散热技术有限公司 |
| 主分类号： | G01K7/04 | 分类号： | G01K7/04;G01R27/02 |
| 代理公司： | 上海硕力知识产权代理事务所 31251 | 代理人： | 王法男 |
| 地址： | 412000 湖*** | 国省代码： | 湖南;43 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种电力半导体元件散热器热阻测试方法和装置，它是利用在散热器台面的元件安装区域开槽或在发热模块上开槽，从而将热电偶埋装在散热器台面上，通过从凹槽引出的引线测量出电力半导体元件散热器在工作状况下的温升和热阻。发热模块由发热模块基体、隔热板和电热管三部分组成，其中电热管安装在发热模块基体内，均匀分布，同时使发热模块基体靠近散热器台面的一侧厚度大于发热模块基体靠近隔热板一侧的厚度。本发明解决了现有技术中测量不到散热器台面温度最高点的缺陷，原理简单，容易实施，适合推广使用。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 电力 半导体 元件 散热器 测试 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种电力半导体元件散热器热阻测试方法，其特征在于，利用在散热器台面的元件安装区域开槽或在发热模块上开槽，从而将热电偶埋装在散热器台面上，通过从凹槽引出的热敏元件引线测量出电力半导体元件散热器在工作状况下的温升和热阻。
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