[发明专利]ZnO基发光器件的制备方法有效
申请号: | 201110101601.8 | 申请日: | 2011-04-22 |
公开(公告)号: | CN102185049A | 公开(公告)日: | 2011-09-14 |
发明(设计)人: | 丁萍;潘新花;黄靖云;叶志镇;吕斌 | 申请(专利权)人: | 浙江大学 |
主分类号: | H01L33/00 | 分类号: | H01L33/00 |
代理公司: | 杭州求是专利事务所有限公司 33200 | 代理人: | 韩介梅 |
地址: | 310027 浙*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | 本发明公开了ZnO基发光器件的制备方法,该发光器件自下而上依次有衬底、n型ZnO层、ZnO基发光层和p型ZnO层,其中n型ZnO层和ZnO基发光层采用等离子增强分子束外延方法制备,p型ZnO层采用激光增强分子束外延方法制备。整个ZnO基发光器件材料在同一设备中原位生长,减少可能的沾污。除p型ZnO层外的各层结构采用等离子增强分子束外延方法制备,有效保证了晶体质量和界面平整性,降低缺陷密度,有利于提高ZnO基发光器件的发光效率。p型ZnO层采用激光增强分子束外延方法制备,这一非平衡过程将有效提高p型掺杂效率,有利于获得高空穴浓度的稳定可靠p型ZnO层。 | ||
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【主权项】:
ZnO基发光器件的制备方法,该发光器件自下而上依次有衬底、n型ZnO层、ZnO基发光层和p型ZnO层,其制备方法包括以下步骤:1)将清洗处理后的衬底放入分子束外延设备,衬底温度加热至300~800℃,调节生长室压力为1×10‑5~6×10‑5Torr,以经过射频活化的纯O2为O源,金属Zn源为反应源,金属Ga源为n型掺杂源,在衬底上生长n型ZnO层;2)在生长有n型ZnO层的基片上,以经过射频活化的纯O2为O源,金属Zn源和金属Mg源为反应源,在300~800℃温度下,生长4‑10个周期的ZnMgO/ZnO多量子阱层作为ZnO基发光层;3)采用频率为1~5Hz、能量为200~400mJ的激光轰击掺Na的ZnO陶瓷靶,其中Na摩尔百分含量为0.5~1%,在400~700℃温度下生长p型ZnO层。
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