[发明专利]差热分析法测定HZSM-5分子筛表面酸位量的方法

摘要

本发明公开了一种差热分析法测定HZSM-5分子筛表面酸位量的方法，其测定内容包括酸种类、酸强度及酸位量，另涉及一种简易的分子筛吸附胺的方法。该方法包括如下步骤：将样品在真空条件下，干燥4h，之后吸附胺类，然后再加热抽真空除去物理吸附的胺；最后取少量样品进行差热分析，其温度程序为初始温度35℃，初始等待30min，以10℃min-1速率升温至650℃；通过DTG曲线进行失重段划分，并按质量损失百分比计算样品表面酸位量。本方法测量准确、操作简便，且适用于同类热稳定性好的固体酸催化剂。

主权项

1.一种差热分析法测量HZSM-5分子筛表面酸性的方法，具体测试步骤如下：（1） 将 HZSM-5分子筛，在200℃真空条件下干燥4h；（2） 待样品冷却至室温后，向测样品滴入胺，再抽至真空，之后密闭容器，并保持1h；（3）之后继续抽真空，并加热至150℃，保持30min；（4）差热仪器中，支架类型可选TG-DTA或TG-DSC；坩埚类型可选Al₂O₃或Pt-Rh；（5）温度程序为，初始温度35℃，初始等待30min，以10℃min^-1速率升温至650℃；（6）气氛选择，保护气：惰性气体（如氮气）；吹扫气1：氮气；吹扫气2：氧气；（7） 样品测试：其各自酸位量按以下公式计算：式中：A 为样品吸附胺的数量，对应于样品表面的酸位量，单位为摩尔每克（mol·g^-1）；w% 为样品单位区间 内质量损失的百分比；M 为吸附胺的分子量。