[发明专利]发光元件的测试系统以及测试发光元件的方法无效

专利信息
申请号: 201110106844.0 申请日: 2011-04-27
公开(公告)号: CN102759716A 公开(公告)日: 2012-10-31
发明(设计)人: 张倍铭 申请(专利权)人: 致伸科技股份有限公司
主分类号: G01R31/44 分类号: G01R31/44;G01R19/165
代理公司: 北京润平知识产权代理有限公司 11283 代理人: 董彬
地址: 中国台湾台*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 发明关于一种发光元件的测试系统以及测试发光元件的方法,该方法包括:分别覆盖发光元件以及电路板上的一无发光光元件区域,并根据无发光元件区域的亮度而获得一参考电压,且根据被驱动的发光元件的亮度而获得一测试电压,以及根据测试电压与参考电压而判断发光元件是否通过测试。本发明不需藉由人工方式而可以自动化方式实现发光元件测试,且可降低误判的机率。
搜索关键词: 发光 元件 测试 系统 以及 方法
【主权项】:
一种发光元件的测试系统,用以测试设置于一电路板上的一发光元件,其特征在于,该发光元件的测试系统包括:电脑主机,用以输出该发光元件的测试结果;以及测试座,连接于该电脑主机,用以测试该发光元件,该测试座包括:第一遮光罩,用以覆盖于该电路板上的一无发光元件区域;第一感光电路,具有第一感光元件,该第一感光元件位于该第一遮光罩内,该第一感光电路用以根据该第一感光元件所侦测的该无发光元件区域的亮度而产生一参考电压;第二遮光罩,用以覆盖于该发光元件;第二感光电路,具有第二感光元件,该第二感光元件位于该第二遮光罩内,该第二感光电路用以根据该第二感光元件所侦测的该发光元件的亮度而产生测试电压;以及判断电路,分别连接于该第一感光电路、该第二感光电路以及该电脑主机,用以判断该测试电压是否大于该参考电压而决定该发光元件是否通过测试。
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