[发明专利]能够抵抗太阳光干扰的视觉检测系统及方法有效
| 申请号： | 201110108191.X | 申请日： | 2011-04-28 |
| 公开（公告）号： | CN102261910A | 公开（公告）日： | 2011-11-30 |
| 发明（设计）人： | 赵辉;陶卫;刘伟文;刘炜浩;杨金峰 | 申请（专利权）人： | 上海交通大学 |
| 主分类号： | G01C11/02 | 分类号： | G01C11/02;G01C11/04;G01C15/00 |
| 代理公司： | 上海交达专利事务所 31201 | 代理人： | 王锡麟;王桂忠 |
| 地址： | 200240 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 一种视觉检测技术领域的能够抵抗太阳光干扰的视觉检测系统及方法，该系统包括：摄像机、激光器、反射标志和处理系统，激光器与摄像机并列设置于检测系统的测量点位置并分别与处理系统相连，反射标志设置于被测目标的任一特征点上并与被测目标之间无相互位移，激光器与处理系统相连并接收控制指令，激光器正对反射标志射出激光并照亮反射标志，摄像机获取反射标志的图像并将图像传输到处理系统，处理系统对图像进行处理并获得反射标志的具体位置。本发明采用半导体激光束进行定向照明，利用具有逆反射性能的薄膜材料制作反射标志，将主动光源的入射光进行定向反射，以窄带滤光有效减小太阳光的影响，显著提高检测系统的稳定性和检测精度。 | ||
| 搜索关键词： | 能够 抵抗 太阳光 干扰 视觉 检测 系统 方法 | ||
【主权项】：
一种能够抵抗太阳光干扰的视觉检测系统，包括：摄像机、激光器、反射标志和处理系统，其特征在于：激光器与摄像机并列设置于检测系统的测量点位置并分别与处理系统相连，反射标志设置于被测目标的任一特征点上并与被测目标之间无相互位移，激光器与处理系统相连并接收控制指令，激光器正对反射标志射出激光并照亮反射标志，摄像机获取反射标志的图像并将图像传输到处理系统，处理系统对图像进行处理并获得反射标志的具体位置。
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