[发明专利]半导体封装结构与其制造方法无效
申请号: | 201110108275.3 | 申请日: | 2011-04-28 |
公开(公告)号: | CN102683546A | 公开(公告)日: | 2012-09-19 |
发明(设计)人: | 吴上义;钱文正;蔡佳伦;黄田昊 | 申请(专利权)人: | 联京光电股份有限公司 |
主分类号: | H01L33/48 | 分类号: | H01L33/48;H01L33/64;H01L23/31;H01L23/367;H01L21/56 |
代理公司: | 北京远大卓悦知识产权代理事务所(普通合伙) 11369 | 代理人: | 史霞 |
地址: | 中国台湾新竹县*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | 本发明提供一种半导体封装结构与其制造方法,此半导体封装结构包括:一半导体晶粒、一导热薄膜、一基板、多个导电薄膜图案、与至少一绝缘体,其中导热薄膜是设置于半导体晶粒的底部,基板主要是由导电材质或半导体材质所构成。此外,于基板上设置有一第一孔穴,所述第一孔穴是贯穿基板,且半导体晶粒是放置在第一孔穴中。导电薄膜图案是分布于基板上,且这些导电薄膜图案彼此并不互相接触。另外,绝缘体则连接于半导体晶粒与基板间。 | ||
搜索关键词: | 半导体 封装 结构 与其 制造 方法 | ||
【主权项】:
一种半导体封装结构,包括:一半导体晶粒;一导热薄膜,所述导热薄膜设置于所述半导体晶粒的底部;一基板,所述基板主要是由导电材质或半导体材质所构成,于所述基板上设置有一第一孔穴,所述第一孔穴是贯穿所述基板,所述半导体晶粒是放置在所述第一孔穴中;多个导电图案,这些导电图案是分布于所述基板上,且这些导电图案彼此并不互相电性连接,且所述导电图案与所述基板并不互相电性连接;及至少一绝缘体,所述绝缘体连接于所述半导体晶粒与所述基板之间;其中,所述半导体晶粒与所述导电图案电性连接。
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