[发明专利]紫外光刻蚀干法制备石墨烯量子点的方法无效
申请号: | 201110109954.2 | 申请日: | 2011-04-29 |
公开(公告)号: | CN102208755A | 公开(公告)日: | 2011-10-05 |
发明(设计)人: | 沈广霞;张佳利;杨海军;崔大祥 | 申请(专利权)人: | 上海交通大学 |
主分类号: | H01S5/34 | 分类号: | H01S5/34;B82Y40/00;B82Y20/00 |
代理公司: | 上海交达专利事务所 31201 | 代理人: | 王锡麟;王桂忠 |
地址: | 200240 *** | 国省代码: | 上海;31 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 一种纳米材料技术领域的紫外光刻蚀干法制备石墨烯量子点的方法,通过将石墨烯溶液旋涂于云母片上,经干燥得到氧化石墨烯/云母薄膜,经紫外光照射后制备得到单层石墨烯的量子点薄膜。本发明以氧化石墨烯为原材料,采用紫外刻蚀并还原法,一步干法制备单层石墨烯量子点。 | ||
搜索关键词: | 紫外光 刻蚀 法制 石墨 量子 方法 | ||
【主权项】:
一种紫外光刻蚀干法制备石墨烯量子点的方法,其特征在于,通过将石墨烯溶液旋涂于云母片上,经干燥得到氧化石墨烯/云母薄膜,经紫外光照射后制备得到单层石墨烯的量子点薄膜。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海交通大学,未经上海交通大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201110109954.2/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:调整像素电压对称的方法及装置
- 下一篇:基于运动估计的道路视频稳定方法