[发明专利]一种集成电路测试分选机的分粒结构有效

专利信息
申请号: 201110111304.1 申请日: 2011-04-28
公开(公告)号: CN102259099A 公开(公告)日: 2011-11-30
发明(设计)人: 韩笑 申请(专利权)人: 杭州长川科技有限公司
主分类号: B07C5/36 分类号: B07C5/36
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 310052 浙江省杭州市滨江*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 一种集成电路测试分选机的分粒机构,它至少包括有一个电路流道、一个气缸,作用于所述电路流道和气缸的前挡杆和后挡杆,所述的前挡杆连接L型连接件,所述L型连接件通过螺丝固定在气缸轴上,所述的气缸轴设置于气缸缸体内部;所述的前挡杆和后挡杆上设置有前支座和后支座,所述的前挡杆和后挡杆之间设置有光轴和光轴槽;所述前挡杆上设置有螺纹孔,通过该螺纹孔用螺丝将分粒压块固定在前挡杆上;本发明采用平动气缸驱动,可有效降低使用成本。
搜索关键词: 一种 集成电路 测试 分选 结构
【主权项】:
一种集成电路测试分选机的分粒机构,它至少包括有一个电路流道、一个气缸缸体,作用于所述电路流道和气缸的前挡杆和后挡杆,所述的前挡杆连接L型连接件,所述L型连接件通过螺丝固定在气缸轴上,所述的气缸轴设置于气缸缸体内部;所述的前挡杆和后挡杆上设置有前支座和后支座,所述的前挡杆和后挡杆之间设置有光轴和光轴槽;所述前挡杆上设置有螺纹孔,通过该螺纹孔用螺丝将分粒压块固定在前挡杆上。
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