[发明专利]使用激光束来计数小电子元件的设备及方法无效
| 申请号： | 201110111981.3 | 申请日： | 2011-04-29 |
| 公开（公告）号： | CN102622648A | 公开（公告）日： | 2012-08-01 |
| 发明（设计）人： | 朴寅洙;郑在然;金泽兼 | 申请（专利权）人： | 三星电机株式会社 |
| 主分类号： | G06M1/272 | 分类号： | G06M1/272 |
| 代理公司： | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人： | 余刚;吴孟秋 |
| 地址： | 韩国*** | 国省代码： | 韩国;KR |
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| 摘要： | 在此公开了一种使用激光束来计数小电子元件的设备及方法。使用激光束来计数小电子元件的设备包括：供给室，供给小电子元件；光穿透管，连接至供给室的下部，并形成小电子元件下落所经过的路径；激光发射器，发射激光束；光学器件，将由激光发射器发射的激光束转换成水平式光，并将转换而成的水平式光传输至光穿透管侧；以及光电探测器，探测由经过光穿透管的小电子元件散射的光。 | ||
| 搜索关键词： | 使用 激光束 计数 电子元件 设备 方法 | ||
【主权项】：
一种使用激光束来计数小电子元件的设备，所述设备包括：供给室，供给所述小电子元件；光穿透管，连接至所述供给室的下部，并形成所述小电子元件下落所经过的路径；激光发射器，发射所述激光束；光学器件，将由所述激光发射器发射的所述激光束转换成水平式光，并将转换而成的水平式光传输至所述光穿透管侧；光电探测器，探测由经过所述光穿透管的所述小电子元件散射的光。
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