[发明专利]一种提高EEPROM良率和读取可靠性的方法

摘要

本发明公开了一种提高EEPROM良率和读取可靠性的方法，该方法通过确定参考单元电流区间来设定参考单元电流的值，从而实现对参考单元电流值的平移，克服了由于参考单元电流设定固定值而带来的可能使EEPROM单元在测试中出现大批失效的问题，提高了测试良率；同时该方法通过首先采用选取参考单元电流区间的最小值来测试EEPROM的“1”状态，选取参考单元电流区间的最大值来测试EEPROM的“0”状态”的步骤可先筛选出少数失效的EEPROM单元，从而预留出读取EEPROM“1”状态和“0”状态的检测余量，提高了出厂后EEPROM读取的可靠性。

主权项

一种提高EEPROM良率和读取可靠性的方法，其特征在于，其包括如下步骤：1)在所测试晶元的不同位置，选取不同分组，检测各分组EEPROM单元在存储“0”及“1”时的支路电流，并以测得的上述支路电流值实际分布情况作为参考确定参考单元电流区间；2)选取参考单元电流区间的最小值采用电流比较法来测试EEPROM的“1”状态，选取参考单元电流区间的最大值采用电流比较法来测试EEPROM的“0”状态；3)以参考单元电流区间最大值和最小值的中间值作为EEPROM的参考单元电流的出厂设定值，对步骤2)中判定有效的EEPROM分别采用电流比较法对该EEPROM的“1”状态和“0”状态进行测试来作为最终的判定结果。