[发明专利]服从指数分布的电子产品可靠性预计模型修正方法有效

专利信息
申请号: 201110118578.3 申请日: 2011-05-09
公开(公告)号: CN102184292A 公开(公告)日: 2011-09-14
发明(设计)人: 胡薇薇;丁潇雪;孙宇锋;祁邦彦 申请(专利权)人: 北京航空航天大学
主分类号: G06F17/50 分类号: G06F17/50
代理公司: 北京慧泉知识产权代理有限公司 11232 代理人: 王顺荣;唐爱华
地址: 100191 北京市海淀*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 一种服从指数分布的电子产品的可靠性预计模型修正方法,步骤如下:1,分析产品的使用区域;2,采集使用区域内各省、市的历年气象信息,计算各地区温度应力和湿度应力的年平均值;3,分别构造温度和湿度概率密度分布函数,求取使用区域温度应力和湿度应力的年平均值;4,分析产品使用过程中所承受的各项应力;5,选择可靠性预计手册,根据应力分析模型计算元器件工作失效率;6,绘制产品任务可靠性框图,综合计算产品工作失效率;7,进行加速寿命试验,记录试验数据;8,计算试验条件下产品平均故障前时间及正常工作条件下工作失效率;9,比较可靠性预计和加速寿命试验得到的产品工作失效率,计算湿度应力产生的误差,提出可靠性预计修正模型。
搜索关键词: 服从 指数分布 电子产品 可靠性 预计 模型 修正 方法
【主权项】:
一种服从指数分布的电子产品可靠性预计模型修正方法,其特征在于:该方法的具体步骤如下:步骤1,分析产品的使用区域并按省、直辖市、自治区进行划分;步骤2,采集使用区域内各省、直辖市、自治区的历年气象信息,计算各地区温度应力和湿度应力的年平均值;步骤3,对各地区温度应力、湿度应力的年平均值进行分组,分别绘制直方图,根据直方图的分布趋势,分别构造温度概率密度分布函数和湿度概率密度分布函数,求取使用区域温度应力和湿度应力的年平均值;步骤4,在充分了解元器件信息的基础上,分析产品使用过程中所承受的各项应力;步骤5,选择可靠性预计手册,确定各类元器件进行应力分析的模型,计算元器件工作失效率;步骤6,绘制产品任务可靠性框图,综合计算产品工作失效率;步骤7,进行恒应力、定时截尾加速寿命试验,记录试验数据;步骤8,计算试验条件下产品平均故障前时间,外推正常工作条件下产品平均故障前时间及工作失效率;步骤9,比较可靠性预计和加速寿命试验得到的产品工作失效率,计算湿度应力产生的误差,提出可靠性预计修正模型。
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