[发明专利]基于谐振腔技术测试保偏光纤耦合器偏振消光比的装置及方法有效
| 申请号： | 201110119844.4 | 申请日： | 2011-05-10 |
| 公开（公告）号： | CN102269647A | 公开（公告）日： | 2011-12-07 |
| 发明（设计）人： | 马慧莲;姚灵芝;金仲和 | 申请（专利权）人： | 浙江大学 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02 |
| 代理公司： | 杭州求是专利事务所有限公司 33200 | 代理人： | 张法高 |
| 地址： | 310027 浙*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于谐振腔技术测试保偏光纤耦合器偏振消光比装置及方法。它将保偏光纤耦合器其中一个输出端和一个输入端相连构成一个最基本的环形谐振腔结构，通过测试光纤环形谐振腔的谐振曲线获取保偏光纤耦合器的偏振轴对准角度误差，得到保偏光纤耦合器的偏振消光比。测试保偏光纤耦合器偏振消光比的装置：光纤激光器、第一隔离器、光纤环形谐振腔、第二隔离器、光电探测器和示波器依次相连，光纤环形谐振腔置于温控面板上。同时对于光纤耦合器不能分离的光波导谐振腔，本发明可以无破坏性的对构成谐振腔的耦合器偏振消光比特性进行测试。本发明提供了一种新型简便的测试保偏光纤耦合器偏振消光比的方法，具有重要的科学意义与应用价值。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 谐振腔 技术 测试 偏光 耦合器 偏振 装置 方法 | ||
【主权项】：
一种基于谐振腔技术测试保偏光纤耦合器偏振消光比装置，其特征在于包括温控面板(6)、光纤激光器(7)、第一隔离器(8)、15°熔接点(9)、光纤环形谐振腔(10)、第二隔离器(11)、光电探测器(12)和示波器(13)；光纤激光器(7)、第一隔离器(8)、15°熔接点(9)、光纤环形谐振腔(10)、第二隔离器(11)、光电探测器(12)和示波器(13)顺次连接；光纤环形谐振(10)置于温控面板(6)上。
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