[发明专利]单一晶粒尺寸半导体元件绝缘被覆结构无效

专利信息
申请号: 201110120025.1 申请日: 2008-08-18
公开(公告)号: CN102201378A 公开(公告)日: 2011-09-28
发明(设计)人: 吴亮洁;王*晴 申请(专利权)人: 佳邦科技股份有限公司
主分类号: H01L23/31 分类号: H01L23/31;H01L23/00;H01L23/488
代理公司: 隆天国际知识产权代理有限公司 72003 代理人: 赵根喜;冯志云
地址: 中国台*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 一种单一晶粒尺寸半导体元件绝缘被覆结构,包括:单一晶粒尺寸半导体元件,该单一晶粒尺寸半导体元件具有前侧面、后侧面、左侧面、右侧面、底面、及上表面,该单一晶粒尺寸半导体元件的该上表面具有两个金属垫;以及绝缘被覆层,该绝缘被覆层覆盖于该单一晶粒尺寸半导体元件的该前侧面、该后侧面、该左侧面、该右侧面、及该底面。本发明可以得到相同的可靠度,但是尺寸较小的单一晶粒尺寸半导体元件,保护该元件不受环境影响,并节省了费用,降低工艺的难度。
搜索关键词: 单一 晶粒 尺寸 半导体 元件 绝缘 被覆 结构
【主权项】:
一种单一晶粒尺寸半导体元件绝缘被覆结构,其特征在于,包括:单一晶粒尺寸半导体元件,该单一晶粒尺寸半导体元件具有前侧面、后侧面、左侧面、右侧面、底面、及上表面,该单一晶粒尺寸半导体元件的上表面具有两个金属垫;以及绝缘被覆层,该绝缘被覆层覆盖于该单一晶粒尺寸半导体元件的前侧面、后侧面、左侧面、右侧面、及底面,该单一晶粒尺寸半导体元件的两端还分别具有端电极,该端电极覆盖于该绝缘被覆层、及该金属垫,使该端电极覆盖于该单一晶粒尺寸半导体元件的前侧面、后侧面、左侧面、右侧面、底面、及上表面。
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