[发明专利]导电云母粉密度阻值测量设备及其测量方法

摘要

本发明公布了一种导电云母粉密度阻值测量设备及其测量方法。该导电云母粉密度阻值测量设备有一个矩形的一侧开口的钢制框架，在框架顶部，向下垂直设有一个加载端，该加载端内置激光测距仪；在框架底部向上固定设有一个加载系统，在加载系统内部设有一个电子天平，在加载系统顶部，向上固定设有一个矩形内凹的陶瓷试样槽。该导电云母粉密度阻值测量设备及其测量方法通过伺服压力机对试样槽内的导电云母粉进行加压，通过多种传感器技术，实现对不同质量密度、体积密度的导电云母粉的导电能力与硬度系数进行自动测定，同时也可以应用与其他超细粉状物质的密度电阻率的测量，极具实用价值。

主权项

导电云母粉密度阻值测量设备及其测量方法，本发明包括框架(1)、激光测距仪(2)、测试电极(3)、试样槽(4)、底座电极(5)、绝缘垫(6)、电子天平(7)、加载系统(8)、形变监测器(9)，其特征是：该导电云母粉密度阻值测量设备有一个矩形的一侧开口的钢制框架(1)，在框架(1)顶部，向下垂直设有一个加载端，该加载端内置激光测距仪(2)，且加载端的端头固定设有测试电极(3)；在框架(1)的底部，向上固定设有一个加载系统(8)，在加载系统(8)内部设有一个电子天平(7)，在加载系统(8)的顶部，向上固定设有一个矩形内凹的陶瓷试样槽(4)，该试样槽(4)底部顺序向上分别设有陶瓷绝缘垫(6)和底座电极(5)，所述测试电极(3)和底座电极(5)形成一个电极对；在试样槽(4)外侧，设置一个形变监测器(9)。