[发明专利]一种利用地震数据确定品质因数的方法有效

专利信息
申请号: 201110124599.6 申请日: 2011-05-13
公开(公告)号: CN102778692A 公开(公告)日: 2012-11-14
发明(设计)人: 王秋成;王梅生;李培明;马涛;李伟波 申请(专利权)人: 中国石油天然气集团公司;中国石油集团东方地球物理勘探有限责任公司
主分类号: G01V1/28 分类号: G01V1/28;G01V1/30
代理公司: 北京市中实友知识产权代理有限责任公司 11013 代理人: 刘天语;杜伊芳
地址: 100007 北京市*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明是地球物理勘探技术中利用地震数据确定品质因数的方法,通过计算得到均方根振幅趋势线和均方根品质因数趋势线,沿均方根品质因数趋势线拾取品质因数,通过交互拾取调整均方根品质因数的数值,使计算得到的振幅值和实际振幅变化趋势曲线相吻合,得到这一时间上的均方根品质因数,最后利用Dix公式计算得到每一层的品质因数。本发明有效地解决了利用实际地震数据计算品质因数稳定性不好的问题,使利用实际地震数据也能较为精确确定地层的品质因数,实现了地层吸收衰减量计算在实际资料应用中的定量化。
搜索关键词: 一种 利用 地震 数据 确定 品质因数 方法
【主权项】:
一种利用地震数据确定品质因数的方法,特点是采用以下步骤实现:1)首先对采集的地震数据进行预处理,处理过程进行保幅,得到叠加剖面;2)计算均方根振幅,形成趋势线,对于地面地震数据采用一个CDP(共深度点)或多个CDP(共深度点)数据计算,在VSP(垂直地震剖面)走廊叠加剖面上采用一道进行计算;3)将地震数据的振幅谱直接作为地震子波的振幅谱,将叠加剖面浅层数据的振幅谱作为初始子波的振幅谱,利用谱比法计算从初始子波到某一深度地层的品质因数,每一时间上地层品质因数计算都采用同一浅层数据作为初始子波,得到从浅层到深层的均方根品质因数趋势线;4)利用步骤2)得到的均方根振幅趋势线和步骤3)的均方根品质因数趋势线,沿均方根品质因数趋势线拾取品质因数,利用这个拾取的品质因数和时间t,计算浅层剖面数据的振幅谱A0(f)经过时间t后振幅谱变为A1(f)。再利用傅里叶反变换将频率域A1(f)变换成时间域地震记录,利用步骤2)中均方根振幅计算公式(2)计算拾取品质因数同一时间上的振幅值。通过交互拾取调整均方根品质因数的数值,使计算得到的振幅值和实际振幅变化趋势曲线相吻合,得到这一时间上的均方根品质因数,最后利用Dix公式计算得到每一层的品质因数。
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