[发明专利]CTCS-3级列控测试仿真系统无效

专利信息
申请号: 201110125229.4 申请日: 2011-05-16
公开(公告)号: CN102289209A 公开(公告)日: 2011-12-21
发明(设计)人: 周暐;赵洪军;车惠军;陈远旭;蒋灵明;郎红霞;谢和欢;张波 申请(专利权)人: 北京全路通信信号研究设计院有限公司
主分类号: G05B17/02 分类号: G05B17/02
代理公司: 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 代理人: 刘芳
地址: 100073 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明提供一种CTCS-3级列控测试仿真系统,包括:综合测评模块、综合监控模块、半实物仿真测试模块,综合监控模块分别与综合测评模块和半实物仿真测试模块连接,半实物仿真测试模块与待测列控设备连接。本发明的CTCS-3级列控测试仿真系统可以很好地模拟实际工况条件,进而可以使CTCS-3级列控系统在需要的工况条件下运行,准确地确定CTCS-3级列控系统在实际工况下的性能,可以有效地提高CTCS-3级列控系统的设计效率、安全性和可靠性。
搜索关键词: ctcs 级列控 测试 仿真 系统
【主权项】:
一种CTCS 3级列控测试仿真系统,其特征在于,包括:综合测评模块、综合监控模块、半实物仿真测试模块,所述综合监控模块分别与所述综合测评模块和半实物仿真测试模块连接,所述半实物仿真测试模块与待测列控设备连接,所述综合测评模块,用于生成测试命令,并将所述测试命令发送给所述综合监控模块,并通过所述综合监控模块获取测试信息,并对所述测试信息进行测评;所述综合监控模块,用于接收所述测试命令,根据所述测试命令生成测试控制命令,并将所述测试控制命令发送给所述半实物仿真测试模块执行,并根据所述半实物仿真测试模块的执行情况生成所述测试信息,以供所述综合测评模块获取;所述半实物仿真测试模块,用于根据所述操作控制命令确定当前的测试模式,并根据所述测试模式和测试控制命令控制所述待测列控设备运行。
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