[发明专利]偏光膜卷材的品质判断系统及其方法有效
| 申请号： | 201110125641.6 | 申请日： | 2011-05-10 |
| 公开（公告）号： | CN102253054A | 公开（公告）日： | 2011-11-23 |
| 发明（设计）人： | 尹永根;朴一雨 | 申请（专利权）人： | 东友精细化工有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/892 | 分类号： | G01N21/892;G01N21/898;G02B5/30 |
| 代理公司： | 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 | 代理人： | 徐金国 |
| 地址： | 韩国全罗北道益*** | 国省代码： | 韩国;KR |
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| 摘要： | 本发明提供一种偏光膜卷材的品质判断系统及其方法，该系统以及方法可以减低追加检测所需要的费用以及时间，可以自动甄别预想为会出现较高缺陷遗漏率的卷材。本发明的实施例的偏光膜卷材的品质判断系统及其方法，通过使用自动光学检测机的检测结果数据获得对于卷材品质判断重要信息以及将这些重要信息传达到后续工序，由此来履行作为对于不合格卷材的早期预警系统的机能，可以在后续工序中按照卷材品质的不同来构筑不同的工艺。 | ||
| 搜索关键词： | 偏光 卷材 品质 判断 系统 及其 方法 | ||
【主权项】：
一种偏光膜卷材的品质判断系统，其特征在于，所述品质判断系统包括：存储部，其存储从对偏光膜卷材进行缺陷检测的自动光学检测机得到的检测结果数据；缺陷数据分析部，其根据包含于所述检测结果数据中的缺陷位置信息算出检测对象卷材的各单位区域的缺陷产生密度，并根据所述缺陷产生密度变为规定值以上的缺陷密度异常区域数算出所述检测对象卷材的缺陷密度异常指数；以及卷材品质判断部，其在所述检测对象卷材的缺陷密度异常指数变为规定的允许值以上时，将所述检测对象卷材判断为不合格卷材。
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