[发明专利]一种利用射频标尺法测量高反射率的方法无效
| 申请号： | 201110131297.1 | 申请日： | 2011-05-20 |
| 公开（公告）号： | CN102788680A | 公开（公告）日： | 2012-11-21 |
| 发明（设计）人： | 陈玉华 | 申请（专利权）人： | 上海市宝山区青少年科学技术指导站 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02 |
| 代理公司： | 上海精晟知识产权代理有限公司 31253 | 代理人： | 何新平 |
| 地址： | 200940 上*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种利用射频标尺法测量高反射率的方法，其实施步骤为将待测反射率的反射镜制作成光电谐振腔；搭建光路；对入射激光进行光电相位调制，产生正负一级边带；通过锯齿波扫描光学谐振腔，得到光谱；将载波和一级边带之间的频率间距作为射频标尺，按比例测出载波的半峰全线宽；利用腔精细度与腔透射光谱的谱线宽度及反射率的关系公式，计算出反射镜的反射率；上述技术方案的测量方法，可以测定高反射率(R＝99.6％)，方法简单。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 利用 射频 标尺 测量 反射率 方法 | ||
【主权项】：
一种利用射频标尺法测量高反射率的方法，其特征在于其实施步骤如下：1)将待测反射率的反射镜制作成光电谐振腔；2)搭建光路；3)对入射激光进行光电相位调制，产生正负一级边带；4)通过锯齿波扫描光学谐振腔，得到光谱；5)将载波和一级边带之间的频率间距作为射频标尺，按比例测出载波的半峰全线宽；6)利用腔精细度与腔透射光谱的谱线宽度及反射率的关系公式，计算出反射镜的反射率。
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