[发明专利]用于探明功率半导体的温度的方法无效
申请号: | 201110136364.9 | 申请日: | 2011-05-20 |
公开(公告)号: | CN102313863A | 公开(公告)日: | 2012-01-11 |
发明(设计)人: | 斯特凡·舒勒 | 申请(专利权)人: | 赛米控电子股份有限公司 |
主分类号: | G01R31/26 | 分类号: | G01R31/26;G01K7/16 |
代理公司: | 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 | 代理人: | 车文;樊卫民 |
地址: | 德国*** | 国省代码: | 德国;DE |
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摘要: | 在用于探明功率半导体的温度的方法中,在其中第一控制触点(22a)被联接到在功率半导体(12)中集成的串联电阻(14)的第一电极处,其中,串联电阻(14)的延续至功率半导体(12)的第二电极被引至第二控制触点(22b):第一控制触点(22a)和第二控制触点(22b)各通过键合线(16)与第一接线端子(24a)和第二接线端子(24b)相连接,通过在这两个接线端子(24a、b)之间的电气测量探明串联电阻(14)的电阻值(RV),借助串联电阻(14)的电阻值(RV)和温度-电阻特性曲线(26)探明串联电阻(14)的温度(T)来作为功率半导体(12)的温度。 | ||
搜索关键词: | 用于 探明 功率 半导体 温度 方法 | ||
【主权项】:
用于探明功率半导体(12)的温度(T)的方法,在其中,第一控制触点(22a)联接到在所述功率半导体(12)中集成的串联电阻(14)的第一电极处,其中,所述串联电阻(14)的延续至所述功率半导体(12)的第二电极被引至第二控制触点(22b),在其中:‑将第一控制触点(22a)和第二控制触点(22b)各通过键合线(16)与第一接线端子(24a)和第二接线端子(24b)相连接,‑通过在这两个接线端子(24a、b)之间的电气的测量来探明所述串联电阻(14)的电阻值(RV),‑借助所述串联电阻(14)的电阻值(RV)和温度‑电阻特性曲线(26)探明所述串联电阻(14)的温度(T)来作为所述功率半导体(12)的温度。
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