[发明专利]颗粒物性测量装置

摘要

本发明提供一种颗粒物性测量装置，该颗粒物性测量装置的光检测部件尽管具有单一的结构，但可以确保测量精度，而且可以尽可能减少光学元件的数量，从而可以实现抑制成本的增加和减少调整部位。颗粒物性测量装置(1)具有作为照射光学系统机构(2)的入射一侧的偏振镜(24)和入射一侧的1/4波片(25)，并且具有作为受光光学系统机构(3)的能够以试样池(4)为中心转动到多个角度位置的出射一侧的1/4波片(33)和出射一侧的偏振镜(34)，在光路上设置不会使偏振光状态改变的减光部件(23)，控制利用减光部件(23)的减光率，使得在各测量位置的检测光强度在光检测部件(31)的测量范围内。

主权项

一种颗粒物性测量装置，其特征在于，至少包括：形状物性值测量机构，求出分散在液体试样中的颗粒的形状物性值；粒径测量机构，测量所述颗粒的粒径；以及zeta电位测量机构，测量所述颗粒的zeta电位，该颗粒物性测量装置还包括图像数据制作部，该图像数据制作部根据所述形状物性值测量机构和所述粒径测量机构的测量结果数据，制作用于将颗粒表面形状和颗粒大小显示为图像的颗粒图像数据，并且该图像数据制作部根据所述zeta电位测量机构的测量结果数据，制作用于将所述颗粒的zeta电位显示为从所述颗粒的颗粒表面起的层的大小和/或从颗粒表面起的层的颜色的zeta电位图像数据。