[发明专利]一种薄膜热电性能参数的测量装置和方法无效

专利信息
申请号: 201110138855.7 申请日: 2011-05-27
公开(公告)号: CN102297877A 公开(公告)日: 2011-12-28
发明(设计)人: 曾志刚;胡志宇;沈斌杰;沈超 申请(专利权)人: 上海大学
主分类号: G01N25/20 分类号: G01N25/20;G01R27/14
代理公司: 上海上大专利事务所(普通合伙) 31205 代理人: 何文欣
地址: 200444*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明提供一种薄膜热电性能参数的测量装置和方法,包括散热片、热电模块、隔热材料、金属圆棒、热电偶线、电压表、电源、数据采集仪和计算机;该测量装置呈对称结构,待测薄膜样品夹于上下两根完全相同的金属圆棒之间,薄膜样品的面积与金属圆棒横截面积相同,利用热电模块来控制测量装置的环境温度及流过薄膜样品的热流量,并利用数据采集仪实时检测记录薄膜热电材料的各项性能参数。本发明的优点在于可以测量不同温度下薄膜热电材料的性能,即能够利用同一套装置同时测量薄膜热电材料的热导系数、塞贝克系数以及电导系数,从而计算得到不同温度下薄膜热电材料的ZT值。本装置和方法原理简单,操作方便,体积小巧,测试功能多,测量精度高。
搜索关键词: 一种 薄膜 热电 性能参数 测量 装置 方法
【主权项】:
一种薄膜热电性能参数的测量装置,其特征在于,包括散热片(1)、热电模块(2)、隔热材料(3)、金属圆棒(4)、热电偶线(6)、电压表(7)、电源(8)、数据采集仪(9)和计算机(10);该测量装置相对于待测薄膜样品(5)呈轴对称结构,所述待测薄膜样品(5)夹于两根所述金属圆棒(4)之间,所述待测薄膜样品(5)的面积与所述金属圆棒(4)横截面积相同,将所述待测薄膜样品(5)及金属圆棒(4)置于真空腔室内或包裹一层隔热材料以最大限度减少热量损失;两根所述金属圆棒(4)与所述待测薄膜样品(5)不接触的两端分别连接两个所述热电模块(2),用于加热或制冷;两个所述热电模块(2)另一端分别连接两个所述散热片(1);在每根所述金属圆棒(4)上等距离地钻有小孔作为测温点,将所述热电偶线(6)置于小孔内并集中于所述数据采集仪(9)来测量所述金属圆棒(4)内的温度分布,从所述两根金属圆棒(4)靠近所述待测薄膜样品(5)一端小孔内引出导线连接所述电压表(7),用来测量电压;从所述两根金属圆棒(4)远离所述待测薄膜样品(5)一端小孔内引出导线连接电源(8),用来输入电流。
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