[发明专利]铟离子产生装置和方法无效
申请号: | 201110144533.3 | 申请日: | 2011-05-31 |
公开(公告)号: | CN102808162A | 公开(公告)日: | 2012-12-05 |
发明(设计)人: | 张伟 | 申请(专利权)人: | 无锡华润上华半导体有限公司;无锡华润上华科技有限公司 |
主分类号: | C23C14/48 | 分类号: | C23C14/48;C22B58/00 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 214028 江苏省无*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明提供了一种铟离子产生装置,包括:坩埚,用于盛放固态含铟化合物;热源,用于加热所述坩埚,气化所述固态含铟化合物得到含铟化合物蒸气;电弧室,用于使含铟化合物蒸气电离产生等离子体;向所述电弧室通入稀释气体的充气装置。本发明的有益效果是:通过向电弧室中充入稀释气体,利用荷转过程增加了铟离子化的速度和转化率。 | ||
搜索关键词: | 离子 产生 装置 方法 | ||
【主权项】:
一种铟离子产生装置,包括:坩埚,用于盛放固态含铟化合物;热源,用于加热所述坩埚,气化所述固态含铟化合物得到含铟化合物蒸气;电弧室,用于使含铟化合物蒸气电离产生等离子体;其特征在于,还包括向所述电弧室通入稀释气体的充气装置。
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