[发明专利]铟离子产生装置和方法无效

专利信息
申请号: 201110144533.3 申请日: 2011-05-31
公开(公告)号: CN102808162A 公开(公告)日: 2012-12-05
发明(设计)人: 张伟 申请(专利权)人: 无锡华润上华半导体有限公司;无锡华润上华科技有限公司
主分类号: C23C14/48 分类号: C23C14/48;C22B58/00
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 214028 江苏省无*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明提供了一种铟离子产生装置,包括:坩埚,用于盛放固态含铟化合物;热源,用于加热所述坩埚,气化所述固态含铟化合物得到含铟化合物蒸气;电弧室,用于使含铟化合物蒸气电离产生等离子体;向所述电弧室通入稀释气体的充气装置。本发明的有益效果是:通过向电弧室中充入稀释气体,利用荷转过程增加了铟离子化的速度和转化率。
搜索关键词: 离子 产生 装置 方法
【主权项】:
一种铟离子产生装置,包括:坩埚,用于盛放固态含铟化合物;热源,用于加热所述坩埚,气化所述固态含铟化合物得到含铟化合物蒸气;电弧室,用于使含铟化合物蒸气电离产生等离子体;其特征在于,还包括向所述电弧室通入稀释气体的充气装置。
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