[发明专利]一种检测铁调素的方法和试剂盒有效
| 申请号： | 201110149663.6 | 申请日： | 2011-06-03 |
| 公开（公告）号： | CN102809599A | 公开（公告）日： | 2012-12-05 |
| 发明（设计）人： | 聂广军;T·胡;范佳;赵宇亮;M·弗拉里 | 申请（专利权）人： | 国家纳米科学中心 |
| 主分类号： | G01N27/62 | 分类号： | G01N27/62 |
| 代理公司： | 北京润平知识产权代理有限公司 11283 | 代理人： | 陈小莲;王凤桐 |
| 地址： | 100190 北*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种检测铁调素的方法，该方法包括如下步骤：(1)将样品液体与纳米芯片接触后，去除样品液体，得到接触样品后的纳米芯片；所述样品液体含有铁调素或不含有铁调素；(2)用洗脱液洗脱接触样品后的纳米芯片，得到洗脱产物；所述洗脱液能够溶解铁调素；(3)获取步骤(2)得到的洗脱产物的质谱检测结果；(4)根据所述质谱检测结果确定洗脱产物中是否含有铁调素或者确定洗脱产物中铁调素的含量。本发明还提供了一种检测铁调素的试剂盒，该试剂盒包括：(i)样品稀释液，所述样品稀释液含有水、三氟乙酸和乙腈；(ii)纳米芯片。本发明提供的检测铁调素的方法，显著地提高了基于质谱的铁调素检测方法的灵敏度和准确度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 检测 铁调素 方法 试剂盒 | ||
【主权项】：
一种检测铁调素的方法，其中，所述方法包括如下步骤：(1)将样品液体与纳米芯片接触后，去除样品液体，得到接触样品后的纳米芯片；所述样品液体含有铁调素或不含有铁调素；(2)用洗脱液洗脱接触样品液体后的纳米芯片，得到洗脱产物；所述洗脱液能够溶解铁调素；(3)获取步骤(2)得到的洗脱产物的质谱检测结果；(4)根据所述质谱检测结果，确定洗脱产物中是否含有铁调素，或者确定洗脱产物中铁调素的含量；步骤(1)中，所述纳米芯片包括基片和附着在所述基片上的多孔氧化硅涂层，所述多孔氧化硅涂层的平均孔径为3.65‑3.75nm，所述多孔氧化硅涂层的比表面积为1050‑1200m2/g，所述多孔氧化硅涂层具有轴向平行的多个孔道，且所述多个孔道中的7个孔道形成一个孔道组，每个孔道组包括一个中心孔道和与该中心孔道相邻并围绕该中心孔道的6个周边孔道，该6个周边孔道的截面中心连线形成正六边形。
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