[发明专利]在质量未知的测试物体上平衡涡流阵列系统的方法有效
| 申请号： | 201110150765.X | 申请日： | 2008-04-07 |
| 公开（公告）号： | CN102323332A | 公开（公告）日： | 2012-01-18 |
| 发明（设计）人： | B.勒帕格 | 申请（专利权）人： | 奥林巴斯NDT公司 |
| 主分类号： | G01N27/90 | 分类号： | G01N27/90 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人： | 刘金凤;王忠忠 |
| 地址： | 美国麻*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 本发明涉及在质量未知的测试物体上平衡涡流阵列系统的方法，其包括步骤：提供已被校准后的涡流阵列探头，使得任何测试物体上的物理缺陷出现在测试结果的阻抗平面的正半部分中；通过向被扫描的测试物体施加测试信号并从其接收测试结果来扫描质量未知的测试物体中的至少一个；通过检查任何测试结果是否出现在阻抗平面的负半部分中来验证各个元件已经针对正确的定位被平衡，其中任何测试结果出现在阻抗平面的负半部分中是各个元件还未被正确地平衡的指示；如果在验证步骤中确定探头未被平衡，则通过调整该探头定位直到其被验证步骤确定为平衡来平衡该探头；以及利用平衡步骤后的阵列来扫描其它测试物体以检测缺陷。该方法消除了基线偏移以及基线漂移。 | ||
| 搜索关键词： | 质量 未知 测试 物体 平衡 涡流 阵列 系统 方法 | ||
【主权项】：
一种用于平衡涡流阵列探头的各个元件以及随后使用平衡的阵列探头来检查物理缺陷未知的多个测试物体的方法，该方法包括步骤：提供已被校准后的涡流阵列探头，使得任何所述测试物体上的物理缺陷出现在测试结果的阻抗平面的正半部分中；通过向被扫描的测试物体施加测试信号并接收来自被扫描的测试物体的测试结果，来扫描具有已知质量的所述测试物体中的至少一个；通过检查任何测试结果是否出现在阻抗平面的负半部分中，来验证所述各个元件已经针对正确的定位被平衡，其中任何测试结果出现在阻抗平面的负半部分中是各个元件还未被正确地平衡的指示；如果在验证步骤中确定探头未被平衡，则通过调整该探头定位直到其被验证步骤确定为平衡为止，来平衡该探头；以及利用经过平衡步骤之后的所述阵列来扫描所述测试物体中的其它测试物体以检测缺陷。
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