[发明专利]一种AMOLED微型显示器的寿命评估方法

摘要

一种AMOLED微型显示器的寿命评估方法，涉及OLED（有机发光二极管）显示器的寿命评估方法，尤其是一种AMOLED（主动矩阵式有机发光二极管）微型显示器的寿命评估方法。该方法包括对样本的加速老化测试、对该加速老化过程建立亮度衰减的理论模型、对亮度衰减的理论模型进行分析并建立寿命推算模型从而计算出半衰期用来评估寿命。

主权项

1.一种AMOLED微型显示器的寿命评估方法，其特征在于该方法包括以下步骤： （1）在具有相同占空比T_on、不同电流驱动信号周期T的驱动下，对至少6个样本的AMOLED微型显示器在初始亮度L₀的亮度下进行器件的加速老化测试，其中，占空比T_on为使用时间t₁与驱动信号周期T比值，占空比T_on值在0至1之间，驱动信号周期T在500ms以下，初始亮度L₀至少为1000cd/m2；（2）对该加速老化过程建立亮度衰减的理论模型即SED理论模型，并计算出各个样本在加速老化测试中相对应的半衰期t_1/2；SED理论模型的数学表达式为：其中，t为衰减时间，L_(t)为对应时刻的亮度，L₀为初始亮度，τ和β为两个待定系数，通过拟合L-t曲线，求出τ和β，令L_(t)/L₀=0.5，则可求出半衰期t_1/2；（3）对亮度衰减的理论模型进行分析，通过步骤（2）所计算得出的不同样本β偏差值评估同一批器件的均匀性、结构稳定性，β偏差越小，则生产均匀性越好，β偏差越大，则生产均匀性越不好，β的相对偏差应在10%以内；（4）建立寿命推算模型，推算模型的数学表达式为：其中，L₀为初始亮度，t_1/2为半衰期，根据上述步骤中各个样本的L₀取值和计算出的相对应的t_1/2值，通过拟合求出n和C确定该表达式，然后根据显示器实际使用亮度L_obj值，求出L_obj下的t_1/2值。