[发明专利]测试设备及测试方法有效

专利信息
申请号: 201110159126.X 申请日: 2011-06-01
公开(公告)号: CN102313864A 公开(公告)日: 2012-01-11
发明(设计)人: 吉田敦;户谷浩之;西泽徹;内山诚三 申请(专利权)人: 富士电机株式会社
主分类号: G01R31/26 分类号: G01R31/26
代理公司: 上海专利商标事务所有限公司 31100 代理人: 侯颖媖
地址: 日本神*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明提供一种测试设备及测试方法,用来实现高压测试,同时减小对全球环境造成的负担,又不会使测试设备或用于测试的设备复杂化。该测试设备包括:压力容器;安装台,该安装台设置在压力容器的内部空间中,并在安装台上安装有被测试设备;测试电极,该测试电极设置在压力容器的内部空间中,向安装在安装台上的被测试设备提供测试电压;以及增压单元,该增压单元使得压力容器的内部空间中的气压升高,其中,在利用增压单元使压力容器的内部空间中的气压升高的状态下,从测试电极向安装在安装台上的被测试设备提供测试电压,对被测试设备进行测试。
搜索关键词: 测试 设备 方法
【主权项】:
一种测试设备,包括:压力容器;安装台,该安装台设置在所述压力容器的内部空间中,在该安装台上安装有被测试设备;测试电极,该测试电极设置在所述压力容器的所述内部空间中,向安装在所述安装台上的所述被测试设备提供测试电压;以及增压单元,该增压单元使所述压力容器的所述内部空间中的气压升高,其中,在已利用所述增压单元使所述压力容器的所述内部空间中的气压升高的状态下,从所述测试电极向安装在所述安装台上的所述被测试设备提供测试电压,对所述被测试设备进行测试。
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