[发明专利]二维样板测量机上超长实样的测量方法无效
| 申请号： | 201110160431.0 | 申请日： | 2011-06-15 |
| 公开（公告）号： | CN102322831A | 公开（公告）日： | 2012-01-18 |
| 发明（设计）人： | 张云鹏;白杨;薛影 | 申请（专利权）人： | 沈阳飞机工业（集团）有限公司 |
| 主分类号： | G01B21/00 | 分类号： | G01B21/00 |
| 代理公司： | 沈阳杰克知识产权代理有限公司 21207 | 代理人： | 杨华 |
| 地址： | 110034 *** | 国省代码： | 辽宁;21 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种二维样板测量机上超长实样的测量方法，其特征在于包括以下步骤：1）在实样上绘出二维样板测量机分别从两端扫描的末端位置，两端扫描区域的重叠部分在两条线之间即为公共区域；2）在实样公共区域的侧面，分别粘贴透明的识别标签A和B，并且标签A和B分别设有不同的基准；3）将实样在二维样板测量机上分别以不同端面为起点进行扫描；4）分别从两个端面进行扫描，扫描距离至少到达公共区域；5）提取两次扫描的数据，并进行处理。该方法通过对超长二维实样实行正向和逆向的扫描，同时通过软件进行对接，从而完成二维实样的完整二维数据，使二维样板测量机不受实样长度的限制。 | ||
| 搜索关键词： | 二维 样板 测量 超长 测量方法 | ||
【主权项】：
一种二维样板测量机上超长实样的测量方法，其特征在于包括以下步骤：1）在实样上绘出二维样板测量机分别从两端扫描的末端位置，两端扫描区域的重叠部分在两条线之间即为公共区域；2）在实样公共区域的侧面，分别粘贴透明的识别标签A和B，并且标签A和B分别设有不同的基准；3）将实样在二维样板测量机上分别以不同端面为起点进行扫描；4）分别从两个端面进行扫描，扫描距离至少到达公共区域；5）提取两次扫描的数据，并进行处理：5.1）自动识别标签A和B的基准；5.2）将两次扫描数据以标签A、B的基准进行旋合；5.3）删除标签A、B的所有特征；5.4）删除图形的所有重复线条；5.5）检查线条并使图形线条连贯；5.6）调整整个图形至水平位置；5.7）超长实样测量完成。
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