[发明专利]微粒分析装置和方法有效
| 申请号： | 201110162675.2 | 申请日： | 2011-06-16 |
| 公开（公告）号： | CN102331396A | 公开（公告）日： | 2012-01-25 |
| 发明（设计）人： | 浩司高崎;濑尾胜弘;外石满;晋司山田;福本敦;加里·杜拉克 | 申请（专利权）人： | 索尼公司;iCyt米申技术公司 |
| 主分类号： | G01N15/14 | 分类号： | G01N15/14 |
| 代理公司： | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人： | 余刚;吴孟秋 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明公开了微粒分析装置和方法，该微粒分析装置包括：光源；第一聚光透镜，用于将来自光源的光会聚至多模光纤的第一端；第二聚光透镜，用于将从多模光纤的第二端出射的光会聚至微粒；以及检测器，用于检测通过施加来自光源的光而从微粒产生的光。 | ||
| 搜索关键词： | 微粒 分析 装置 方法 | ||
【主权项】：
一种微粒分析装置，包括：光源；第一聚光透镜，用于将来自所述光源的光会聚至多模光纤的第一端；第二聚光透镜，用于将从所述多模光纤的第二端出射的所述光会聚至微粒；以及检测器，用于检测通过施加来自所述光源的所述光而从所述微粒产生的光。
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