[发明专利]多通道红外探测器中条纹非均匀性实时校正方法有效
申请号: | 201110162823.0 | 申请日: | 2011-06-17 |
公开(公告)号: | CN102289788A | 公开(公告)日: | 2011-12-21 |
发明(设计)人: | 赵春光;王寿峰;白俊奇;孙宁 | 申请(专利权)人: | 中国电子科技集团公司第二十八研究所 |
主分类号: | G06T5/00 | 分类号: | G06T5/00 |
代理公司: | 南京苏高专利商标事务所(普通合伙) 32204 | 代理人: | 柏尚春 |
地址: | 210007 江*** | 国省代码: | 江苏;32 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明公开一种多通道红外探测器中条纹非均匀性实时校正方法,包括如下步骤:(1)利用标准参考辐射源,初始化多通道红外探测器的条纹非均匀性变化区间;(2)输入原始红外图像;(3)校正原始红外图像的点状非均匀性;(4)对点校图像高通滤波;(5)对点校图像高频分量像素点进行筛选;(6)计算第j读出通道条纹非均匀性的校正参数;(7)对点校图像的条纹非均匀性进行抑制,输出校正图像;(8)更新第j读出通道条纹非均匀性的变化区间;(9)输入新一帧原始红外图像,跳转至步骤(3)。本发明对条纹非均匀性进行校正,进一步改善了多通道红外探测器的成像质量,极大提高了图像的校正精度。 | ||
搜索关键词: | 通道 红外探测器 条纹 均匀 实时 校正 方法 | ||
【主权项】:
一种多通道红外探测器中条纹非均匀性实时校正方法,其特征在于包括如下步骤:(1)利用标准参考辐射源,初始化多通道红外探测器的条纹非均匀性变化区间[NUmin(j),NUmax(j)];NUmin(j)和NUmax(j)分别表示第j读出通道变化区间的最小值和最大值,第j读出通道对应于图像的第j列;(2)输入原始红外图像Xraw;(3)校正原始红外图像的点状非均匀性,输出点校图像Xfix;(4)构造读出通道方向的高通滤波器,对点校图像Xfix高通滤波,得到Xfix的高频分量Xhigh;(5)对点校图像Xfix高频分量Xhigh像素点进行筛选,消除目标高频分量对条纹非均匀性校正参数的影响;(6)基于步骤(5)计算第j读出通道条纹非均匀性的校正参数O(j);(7)对点校图像Xfix的条纹非均匀性进行抑制,输出校正图像Xout;(8)更新第j读出通道条纹非均匀性的变化区间[NUmin(j),NUmax(j)];(9)输入新一帧原始红外图像,跳转至步骤(3)。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国电子科技集团公司第二十八研究所,未经中国电子科技集团公司第二十八研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201110162823.0/,转载请声明来源钻瓜专利网。