[发明专利]一种基于FPGA的仪表电机磨合老化测试装置及方法有效
| 申请号： | 201110167766.5 | 申请日： | 2011-06-21 |
| 公开（公告）号： | CN102253339A | 公开（公告）日： | 2011-11-23 |
| 发明（设计）人： | 陈迅;俞孟蕻;李绍鹏;朱志宇;杨海兴 | 申请（专利权）人： | 江苏科技大学 |
| 主分类号： | G01R31/34 | 分类号： | G01R31/34 |
| 代理公司： | 南京经纬专利商标代理有限公司 32200 | 代理人： | 楼高潮 |
| 地址： | 212003*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公布了一种基于FPGA的仪表电机磨合老化测试装置及方法，该装置由核心控制单元、键盘及显示单元、FPGA配置存储器单元、FPGA扩展存储器单元、十个电机驱动单元和十个测试接插板构成；所述方法如下：核心控制单元产生驱动仪表电机转动的驱动信号，经过电机驱动单元对信号进行功率放大后，通过电机测试接插板驱动仪表电机。本发明具有对一千只仪表电机进行磨合老化测试的能力，同时具备成本低，结构简单，维修简便等优点。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 fpga 仪表 电机 磨合 老化 测试 装置 方法 | ||
【主权项】：
一种基于FPGA的仪表电机磨合老化测试装置，其特征在于该装置由核心控制单元（1）、FPGA配置存储器单元（2）、十个电机驱动单元（3）和十个电机测试接插板（4）、FPGA扩展存储器单元（7）和键盘及显示单元（8）构成；FPGA配置存储器单元（2）、十个电机驱动单元（3）、FPGA扩展存储器单元（7）和键盘及显示单元（8）分别与核心控制单元（1）相连接；电机测试接插板（4）与电机驱动单元（3）相连接；待磨合老化的电机（5）通过插座连接在电机测试接插板（4）上；一个电机驱动单元（3）和一个电机测试接插板（4）组成一个测试分组。
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