[发明专利]一种叶面积指数测定方法及装置

摘要

本发明公开了一种叶面积指数测定方法，通过激光器输出光照射在重叠叶片上，光电变送器检测透射过叶片的光能量，光电变送器输出的电压信号经数据采集卡采集至计算机，计算机根据电压信号大小判断叶片重叠层数，叶片层数乘以光电变送器的接收面积得到测试点的叶片面积，激光器及光电变送器同步平动，对叶片层所在区域进行扫描，将各测试点的叶片面积累加得到叶片层的总叶片面积，总叶片面积除以占地面积得到叶面积指数。本发明还提供了实现该测定方法的叶面积指数测定装置；与现有技术相比，本发明具有测试结果准确，装置简单，制备成本低的优点。

主权项

一种叶面积指数测定方法，其特征在于，包括以下步骤：(1)将叶片层置于激光器和光电变送器之间；(2)系统初始化；(3)拟合测试：在任意叶片上任意选取若干点作为拟合测试点进行测试，光电变送器将接收到的激光信号转换为电压信号，电压信号经数据采集卡采集至计算机；经若干次测试后，由计算机拟合得到电压值Y和重叠叶片层数X之间的关系函数；(4)设置参数：设置电压信号上限、光电变送器的接收面积、叶片层的占地面积和最大循环次数；(5)光电变送器将接收到的激光信号转换为电压信号，电压信号经数据采集卡采集至计算机；(6)计算机判断采集到的电压信号是否超过电压上限，若是，进行步骤(7)；若否，根据测试得到的电压值，利用步骤(3)得到的关系函数计算测试点的重叠叶片层数X；计算测试点叶片面积＝测试点叶片层数×光电变送器的接收面积；(7)判断是否达到最大循环次数；若否，激光器与光电变送器同步平动至下一测试点；若是，则对各测试点叶片面积求和，和值为叶片层的总叶片面积；计算叶面积指数：叶面积指数＝总叶片面积/叶片层的占地面积，完成测定过程。