[发明专利]带有衬底端裸露的器件端电极的半导体器件及其制备方法有效

专利信息
申请号: 201110170350.9 申请日: 2011-06-13
公开(公告)号: CN102832244A 公开(公告)日: 2012-12-19
发明(设计)人: 冯涛;安荷·叭剌 申请(专利权)人: 万国半导体股份有限公司
主分类号: H01L29/78 分类号: H01L29/78;H01L29/417;H01L21/336
代理公司: 上海新天专利代理有限公司 31213 代理人: 王敏杰
地址: 美国加利福尼亚州*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 一种带有裸露在衬底端的器件端电极(SEDE)的半导体器件具有带有器件端、衬底端以及位于器件端的半导体器件区(SDR)的半导体衬底(SCS)。为了器件的运行,形成器件端电极(DSE)。直通衬底沟槽(TST)穿过半导体衬底延伸,触及器件端电极,将它变成裸露在衬底端的器件端电极。可以通过导电连接线,穿过直通衬底沟槽,互连裸露在衬底端的器件端电极。器件端电极也可以含有一个延伸的支撑架,堆栈在裸露在衬底端的器件端电极下面,以便在晶圆后处理封装时,为它提供结构支撑。
搜索关键词: 带有 衬底 裸露 器件 电极 半导体器件 及其 制备 方法
【主权项】:
一种带有裸露在衬底端的器件端电极(SEDE)的半导体器件,其特征在于,该半导体器件包括:一个半导体衬底(SCS),具有器件端、器件端对面的衬底端以及位于器件端的半导体器件区(SDR);多个器件端电极(DSE),形成在器件端上方,并与半导体器件区相接触,用于半导体器件的运行;以及至少一个直通衬底沟槽(TST),穿过半导体衬底延伸,触及器件端电极,从而将所述的器件端电极变成裸露在衬底端的器件端电极,从而可以通过导电连接线,穿过直通衬底沟槽互联裸露在衬底端的器件端电极。
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