[发明专利]用于对薄层的厚度进行无损测量的测量探头有效

专利信息
申请号: 201110174344.0 申请日: 2011-04-22
公开(公告)号: CN102278938A 公开(公告)日: 2011-12-14
发明(设计)人: H·菲舍尔 申请(专利权)人: 赫尔穆特费希尔有限责任公司电子及测量技术研究所
主分类号: G01B7/06 分类号: G01B7/06
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 彭武;谭祐祥
地址: 德国辛*** 国省代码: 德国;DE
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摘要: 发明涉及一种用于无损测量薄层厚度的测量探头,特别是空腔中的薄层,其通过开口可进入或是在弯曲表面上的,该测量探头具有测量头(17),其包括至少一个传感器元件(18)和分配到空腔(26)的待检查表面(27)上的传感器元件(18)上的至少一个接触球冠(31),并具有抓握元件(12),用于在待检表面(27)上和/或沿着待检表面(27)定位和引导测量探头(11),特征在于在抓握元件(12)上设置长的、弹性屈服的导杆(16),其在它的与抓握元件(12)相对的末端上接收至少一个测量头(17,60),以这种方式,测量头以相对于导杆(16)的至少一个自由度可移动。
搜索关键词: 用于 薄层 厚度 进行 无损 测量 探头
【主权项】:
一种用于对薄层厚度进行无损测量的测量探头,特别是针对通过开口可进入的空腔中的或在弯曲表面上的薄层,该测量探头具有测量头(17)并具有抓握元件(12),测量头(17)包括至少一个传感器元件(18)和分配到空腔(26)的待检查表面(27)上的传感器元件(18)上的至少一个接触球冠(31),抓握元件(12)用于在待检查表面(27)上和/或沿着待检查表面(27)定位和引导测量探头(11),特征在于,在抓握元件(12)上设置一种长的、弹性屈服的导杆(16),导杆(16)在它的与抓握元件(12)相对着的末端上接纳至少一个测量头(17,60),以这种方式,测量头是以相对于导杆(16)的至少一个自由度可移动的。
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