[发明专利]阻止过镀的双层薄膜及其制备方法和应用有效

专利信息
申请号: 201110177712.7 申请日: 2011-06-28
公开(公告)号: CN102244145A 公开(公告)日: 2011-11-16
发明(设计)人: 周春兰;王文静;李涛;宋洋;李友忠;段野;郜志华 申请(专利权)人: 中国科学院电工研究所;中轻太阳能电池有限责任公司
主分类号: H01L31/18 分类号: H01L31/18;C23C28/04
代理公司: 北京科迪生专利代理有限责任公司 11251 代理人: 关玲
地址: 100190 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 一种阻止过镀的双层薄膜,其紧邻硅衬底前表面的一层为氧化硅或氮化硅薄层,在所述的氧化硅或氮化硅薄层上面的一层为含碳的硅氧化合物薄层,所述的含碳的硅氧化合物薄层中碳的原子含量为5-10%,折射系数为1.3-1.4,厚度为20-200nm。所述的双层薄膜制备方法,在清洗后的硅衬底的前表面沉积氧化硅或氮化硅薄层,再在薄层上喷涂或者旋涂聚硅氧烷基电介质溶液,经退火得到所述的双层薄膜。包括所述的双层薄膜的硅太阳能电池,从其太阳光照射面,即前表面起向下排列顺序依次为:双层薄膜、前电极、n+发射极、p型硅区域、局域背电场p+、背电极。
搜索关键词: 阻止 双层 薄膜 及其 制备 方法 应用
【主权项】:
一种阻止过镀的双层薄膜,其特征在于:所述的双层薄膜中,紧邻硅衬底前表面的一层为氧化硅或氮化硅薄层,在所述的氧化硅或氮化硅薄层上面的一层为含碳的硅氧化合物薄层,所述的含碳的硅氧化合物薄层中碳的原子含量为5‑10%。
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