[发明专利]一种SEM-ICP-MS测定单微粒铀同位素比值的方法无效
| 申请号： | 201110179528.6 | 申请日： | 2011-06-28 |
| 公开（公告）号： | CN102288671A | 公开（公告）日： | 2011-12-21 |
| 发明（设计）人： | 王晓明;李力力;张燕;朱留超;赵永刚 | 申请（专利权）人： | 中国原子能科学研究院 |
| 主分类号： | G01N27/62 | 分类号： | G01N27/62;G01N1/28 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 102413*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种SEM-ICP-MS测定单微粒铀同位素比值的方法，该方法包括以下步骤：(1)铀微粒样品的制备；(2)铀微粒的寻找、鉴别及转移；(3)铀微粒的溶解；(4)铀同位素比值测定，所述的步骤(3)为将带有铀微粒的硅片放入试剂瓶中，加入HNO3，在电加热板上加热使微粒溶解，再加入去离子水调节酸度；所述的步骤(4)中采用多接收电感耦合等离子体质谱计(MC-ICP-MS)同时接收235U和238U信号，进行样品测量。该发明提供了一种微粒溶解速度快、样品处理量大、测定所需要样品量少、测量精密度相对高、测量时间短的SEM-ICP-MS测定单微粒铀同位素比值的方法。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 sem icp ms 测定 微粒 同位素 比值 方法 | ||
【主权项】：
一种SEM‑ICP‑MS测定单微粒铀同位素比值的方法，该方法包括以下步骤：(1)铀微粒样品的制备；(2)铀微粒的寻找、鉴别及转移；(3)铀微粒的溶解；(4)铀同位素比值测定，其特征在于，所述的步骤(3)为将带有铀微粒的硅片放入试剂瓶中，加入HNO3，在电加热板上加热使微粒溶解，再加入去离子水调节酸度；所述的步骤(4)中采用多接收电感耦合等离子体质谱计(MC‑ICP‑MS)同时接收235U和238U信号，进行样品测量。
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