[发明专利]LED光学特性检测方法及检测装置有效
| 申请号： | 201110191200.6 | 申请日： | 2011-07-08 |
| 公开（公告）号： | CN102865999A | 公开（公告）日： | 2013-01-09 |
| 发明（设计）人： | 陈鲁;夏洋;张超前;张学一 | 申请（专利权）人： | 中国科学院微电子研究所 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02;G01R31/44 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 骆苏华 |
| 地址： | 100029 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供一种LED光学特性检测方法及检测装置，方法包括：提供激光光源；提供光栅，将光栅放置在激光光源的光路上；在光栅背后放置LED，使LED有源层与光栅的距离满足泰伯距离，在LED有源层上形成光栅自成像，光栅自成像包括阵列式排布的照明点；采集LED有源层受阵列式排布的照明点激发产生的荧光。装置包括：激光光源，用于提供相干光束；光栅，用于在接收相干光束时形成光栅自成像；平台，用于承载待检测的LED，使LED有源层与光栅距离为泰伯距离，在LED有源层上形成光栅自成像，光栅自成像包括阵列式排布的照明点；采集器，用于采集LED有源层受阵列式排布的照明点激发而形成的荧光。本发明检测精度较高。 | ||
| 搜索关键词： | led 光学 特性 检测 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种LED光学特性检测方法，其特征在于，包括：提供激光光源；提供光栅，将光栅放置在激光光源的光路上；在光栅背后放置LED，使LED有源层与光栅的距离满足泰伯距离，在LED有源层上形成光栅自成像，所述光栅自成像包括阵列式排布的照明点；采集所述LED有源层受所述阵列式排布的照明点激发产生的荧光。
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