[发明专利]薄膜探针测试装置无效
| 申请号： | 201110192141.4 | 申请日： | 2011-07-05 |
| 公开（公告）号： | CN102243384A | 公开（公告）日： | 2011-11-16 |
| 发明（设计）人： | 王健;胡琼;矫远君 | 申请（专利权）人： | 友达光电(苏州)有限公司;友达光电股份有限公司 |
| 主分类号： | G02F1/13 | 分类号： | G02F1/13;G01R1/073 |
| 代理公司： | 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 | 代理人： | 曾红 |
| 地址： | 215021 江苏*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种薄膜探针测试装置，包含一薄膜探针卡，薄膜探针卡包含一可挠性基材，其具有第一表面与第二表面，该第一表面上设置有多个导电条，该导电条上设置有一探针单元，其中，该探针单元包含多个探针凸块，每一导电条上的探针凸块等间距排列，该可挠性基材上具有一预定裁切线，从每一导电条的该相邻的两探针凸块之间穿过。采用本发明的薄膜探针测试装置，其薄膜探针卡上具有多排探针凸块，当其中一排探针凸块磨损或是脱落之后，可以裁切掉该排探针凸块，使用其他排探针凸块继续进行薄膜探针测试，有效提升测试效率与降低成本。 | ||
| 搜索关键词： | 薄膜 探针 测试 装置 | ||
【主权项】：
一种薄膜探针测试装置，包含一薄膜探针卡，该薄膜探针卡包含一可挠性基材，其具有第一表面与第二表面，该第一表面上设置有多个导电条，该导电条上设置有一探针单元，其特征在于：该探针单元包含多个探针凸块，每一导电条上的探针凸块等间距排列，该可挠性基材上具有一预定裁切线，从每一导电条的该相邻的两探针凸块之间穿过。
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