[发明专利]干涉滤光器、光模块及分析装置无效
申请号: | 201110197699.1 | 申请日: | 2011-07-14 |
公开(公告)号: | CN102346270A | 公开(公告)日: | 2012-02-08 |
发明(设计)人: | 新东晋;北原浩司 | 申请(专利权)人: | 精工爱普生株式会社 |
主分类号: | G02B5/28 | 分类号: | G02B5/28;G01J3/02;G01J3/46 |
代理公司: | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人: | 余刚;吴孟秋 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明提供了干涉滤光器、光模块和分析装置。该干涉滤光器的特征在于固定反射镜及可动反射镜是从Ag-Au合金膜、Ag-Cu合金膜、Ag-Au-Cu合金膜、Ag-Si-Cu合金膜、Ag-P-Cu合金膜、Ag-P-In-Cu合金膜、Ag-Te-Cu合金膜、Ag-Ga-Cu合金膜及Ag-In-Sn合金膜中选择的。 | ||
搜索关键词: | 干涉 滤光 模块 分析 装置 | ||
【主权项】:
一种干涉滤光器,其特征在于,具备隔着间隙相对的两个反射膜,所述反射膜包括合金膜,所述合金膜是含有银(Ag)及金(Au)的Ag‑Au合金膜、含有银(Ag)及铜(Cu)的Ag‑Cu合金膜、含有银(Ag)、金(Au)及铜(Cu)的Ag‑Au‑Cu合金膜、含有银(Ag)、硅(Si)及铜(Cu)的Ag‑Si‑Cu合金膜、含有银(Ag)、磷(P)及铜(Cu)的Ag‑P‑Cu合金膜、含有银(Ag)、磷(P)、铟(In)及铜(Cu)的Ag‑P‑In‑Cu合金膜、含有银(Ag)、碲(Te)及铜(Cu)的Ag‑Te‑Cu合金膜、含有银(Ag)、镓(Ga)及铜(Cu)的Ag‑Ga‑Cu合金膜以及含有银(Ag)、铟(In)及锡(Sn)的Ag‑In‑Sn合金膜中的任一种。
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