[发明专利]角度检测装置无效
申请号: | 201110198670.5 | 申请日: | 2011-07-13 |
公开(公告)号: | CN102735159A | 公开(公告)日: | 2012-10-17 |
发明(设计)人: | 嘉山长兴;荒井由太郎;上月健次 | 申请(专利权)人: | 东京计装株式会社 |
主分类号: | G01B7/30 | 分类号: | G01B7/30;G01D3/036 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人: | 张靖琳 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明的角度检测装置的目的在于:通过运算,去除受到温度变化造成的影响的因素,实施正确的角度测定。轴杆(12)的V形槽(14)的两条斜边在以中线N为中心的两侧,按照角度±φ倾斜,在两条斜边上,安装霍尔元件的传感器(15a,15b)。在均匀的磁通量密度B的磁场内,如果按照角度θ使轴杆(12)旋转,则对于传感器(15a,15b)的输出Va、Vb,在Ka、Kb表示霍尔系数、da、db表示厚度、I表示供给电流时,Va=(Ka/da)·I·B·sin(φ+θ)=(Ka/da)·I·B·(sinφ·cosθ+cosφ·sinθ),Vb=(Kb/d)·I·B·sin(φ-θ)=(Kb/db)·I·B·(sinφ·cosθ-cosφ·sinθ)。(Va-Vb)/(Va+Vb)=(cosφ·sinθ)/(sinφ·cosθ)=tanθ/tanφ,tanθ=tanφ·(Va-Vb)/(Va+Vb),可在与Ka、Kb、da、db、I、B无关的情况下求出tanθ。 | ||
搜索关键词: | 角度 检测 装置 | ||
【主权项】:
一种角度检测装置,在磁通量密度均匀的磁场内配置霍尔元件,通过该霍尔元件来检测角度θ,其特征在于,该角度检测装置具有:第1、第2传感器,沿相对与上述磁通量方向平行的中线以角度±φ倾斜的+φ轴和‑φ轴而分别设置的由霍尔元件构成;检测电路,在相对上述磁通量方向上述中线相对倾斜角度θ的情况下,求解上述第1、第2传感器的输出Va、Vb;运算电路,根据该检测电路的输出对tanθ=tanφ·(Va‑Vb)/(Va+Vb)进行运算,求解角度θ。
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