[发明专利]一种黑心硅片的快速检测方法无效
| 申请号： | 201110203126.5 | 申请日： | 2011-07-20 |
| 公开（公告）号： | CN102313865A | 公开（公告）日： | 2012-01-11 |
| 发明（设计）人： | 张华东;贾孝董;刘成;张周达;徐建飞 | 申请（专利权）人： | 浙江尖山光电股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 杭州赛科专利代理事务所 33230 | 代理人： | 陈辉 |
| 地址： | 314415 浙江省*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种黑心硅片的快速检测方法。传统的判定黑心片方法由于受到时间，速度及量的限制无法满足大规模电池线生产需求。本发明其特征在于对制成黑心硅片的原料硅棒的头、尾两端分别切一薄片，并使用碘酒对薄片钝化后再用少子寿命测试仪进行测试确定其少子寿命。所述薄片的厚度为2mm。本发明采用检测硅棒的方法来进行判定，又由于硅棒的位错主要集中的硅棒头尾，因此检测头尾薄片非常具有代表性，而且两个薄片即代表了整个硅棒的性能，满足了快速检测需要。由于切割会在硅片表面存在损伤层并会影响少子寿命测试结果，因此将这个薄片用碘酒钝化后再测少子寿命就比较准确了。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 黑心 硅片 快速 检测 方法 | ||
【主权项】：
一种黑心硅片的快速检测方法，其特征在于对制成黑心硅片的原料硅棒的头、尾两端分别切一薄片，并使用碘酒对薄片钝化后再用少子寿命测试仪进行测试确定其少子寿命。
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