[发明专利]等离子体处理装置和方法有效
申请号: | 201110206202.8 | 申请日: | 2005-06-21 |
公开(公告)号: | CN102263001A | 公开(公告)日: | 2011-11-30 |
发明(设计)人: | 舆石公;杉本胜;日向邦彦;小林典之;舆水地盐;大谷龙二;吉备和雄;齐藤昌司;松本直树;大矢欣伸;岩田学;矢野大介;山泽阳平;花冈秀敏;速水利泰;山崎广树;佐藤学 | 申请(专利权)人: | 东京毅力科创株式会社 |
主分类号: | H01J37/32 | 分类号: | H01J37/32;H01L21/311 |
代理公司: | 北京尚诚知识产权代理有限公司 11322 | 代理人: | 龙淳 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明提供等离子体处理装置和方法。本发明的等离子体处理装置包括:收容被处理基板,能够进行真空排气的处理容器;在处理容器内相对配置的第一电极和支承被处理基板的第二电极;向所述第二电极施加等离子体形成用的高频电力的第一高频电力施加单元;向所述第二电极施加第二高频电力的第二高频电力施加单元;向所述第一电极施加直流电压的直流电源;向所述处理容器内供给处理气体的处理气体供给单元;和设置在所述第一电极与所述处理容器之间,能够改变所述第一电极与所述处理容器之间的电容的可变电容器。 | ||
搜索关键词: | 等离子体 处理 装置 方法 | ||
【主权项】:
一种等离子体处理装置,其特征在于,包括:收容被处理基板,能够进行真空排气的处理容器;在处理容器内相对配置的第一电极和支承被处理基板的第二电极;向所述第二电极施加等离子体形成用的高频电力的第一高频电力施加单元;向所述第二电极施加第二高频电力的第二高频电力施加单元;向所述第一电极施加直流电压的直流电源;向所述处理容器内供给处理气体的处理气体供给单元;和设置在所述第一电极与所述处理容器之间,能够改变所述第一电极与所述处理容器之间的电容的可变电容器。
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