[发明专利]磁记录介质的检查方法和制造方法、磁记录再现装置的控制方法及磁记录再现装置有效
| 申请号： | 201110207964.X | 申请日： | 2011-06-09 |
| 公开（公告）号： | CN102290078A | 公开（公告）日： | 2011-12-21 |
| 发明（设计）人： | 藤井淳;田村晋太郎 | 申请（专利权）人： | 昭和电工株式会社 |
| 主分类号： | G11B20/18 | 分类号： | G11B20/18;G11B5/60;G11B5/012 |
| 代理公司： | 北京市中咨律师事务所 11247 | 代理人： | 徐健;段承恩 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明提供一种磁记录介质的检查方法和制造方法、磁记录再现装置的控制方法及磁记录再现装置。通过对磁记录再现磁道写入高频信号、接着检测进行了DC擦除或AC擦除后的冒脉冲再现信号，或通过对磁记录再现磁道写入高频信号、检测漏脉冲和尖峰脉冲的并发再现信号，从而确定具有微小突起的磁记录再现磁道，一边进行控制一边使磁头移动以使得回避读写该磁记录再现磁道的信息。通过采用该方法，提高了磁记录再现装置的可靠性和寿命。 | ||
| 搜索关键词： | 记录 介质 检查 方法 制造 再现 装置 控制 | ||
【主权项】：
一种磁记录介质的检查方法，一边使记录了预定的信号的圆盘状的磁记录介质旋转，一边使用磁头再现上述信号，根据得到的再现信号检查磁记录介质，其特征在于，(1)在磁记录再现磁道写入高频信号，接着进行DC擦除或AC擦除，对从进行了擦除后的磁道再现的冒脉冲再现信号进行检测，或者(2)在磁记录再现磁道写入高频信号，对来自写入了高频信号的磁道的漏脉冲和尖峰脉冲的并发再现信号进行检测，通过上述(1)或(2)的检测来对该磁道的缺陷位置进行检测。
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