[发明专利]存储单元测试电路及其测试方法有效
| 申请号： | 201110208077.4 | 申请日： | 2011-07-25 |
| 公开（公告）号： | CN102903392A | 公开（公告）日： | 2013-01-30 |
| 发明（设计）人： | 王一奇;韩郑生;赵发展;刘梦新;毕津顺 | 申请（专利权）人： | 中国科学院微电子研究所 |
| 主分类号： | G11C29/08 | 分类号： | G11C29/08 |
| 代理公司： | 北京市立方律师事务所 11330 | 代理人： | 郑瑜生 |
| 地址： | 100029 北*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种存储单元测试电路，包括：存储单元阵列，用于储存信息数据；预充电电路，用于对存储单元阵列的位线进行预充电；写电路，用于将数据写入存储单元阵列；读取电路，用于感应存储单元阵列中的信息获得信号，并放大信号，通过驱动电路驱动信号到压焊点上，使得信号的电流满足测试仪器的驱动要求。本发明还公开了一种存储单元功能测试的方法。本发明公开的上述方案，解决了测试芯片中遇到的占用面积大、设计成本昂贵、设计周期长的问题，在版图设计时可以将新型存储单元直接嵌入到存储单元测试模块中，只需要采用合适的印刷板电路和普通的测试仪器，即可以应用于单粒子实验中的存储器测试，在一次流片中就可以制作多种不同电路结构的存储单元的测试模块。 | ||
| 搜索关键词： | 存储 单元测试 电路 及其 测试 方法 | ||
【主权项】：
一种存储单元测试电路，其特征在于，包括：存储单元阵列，用于储存信息数据；预充电电路，用于对所述存储单元阵列的位线进行预充电；写电路，用于将数据写入所述存储单元阵列；读取电路，用于感应所述存储单元阵列中的信息获得信号，并放大所述信号，通过驱动电路驱动所述信号到压焊点上，使得所述信号的电流满足测试仪器的驱动要求。
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